En microscopía electrónica de barrido la difracción de electrones por retrodispersión (EBSD:Electron backscatter diffraction), es una técnica de caracterización cristalográfica y microestructural. En ella, se mide directamente la orientación cristalográfica de un grano mediante indexación automática de su diagrama de difracción, compuesto por varias bandas de Kikuchi.[1]​

Referencias

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  1. ↑ Randle, Valerie (2009-09). «Electron backscatter diffraction: Strategies for reliable data acquisition and processing». Materials Characterization 60 (9): 913-922. ISSN 1044-5803. doi:10.1016/j.matchar.2009.05.011. Consultado el 5 de febrero de 2010. 

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